آنالیز XRF

آنالیز XRF

 طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس، (XRF=X-ray Fluorescence Spectroscopy)  ، از روش های آنالیز عنصری است که به دلیل سرعت بالای آنالیز از آن در صنعت و مراکز پژوهشی استفاده می­شود . در این روش، اشعه ایکس به نمونه می تابد و در اثر برانگیختن اتم ها و انتقال الکترونی در لایه های مختلفِ اتم، اشعه ایکس ثانویه، تولید می شود که با تعیین طول موج (انرژی) اشعه ایکس ثانویه که مشخصه اتم است؛ می توان عناصر موجود در نمونه مورد نظر را شناسایی کرد.

با استفاده از این تکنیک، می توان آنالیز عنصری را به ‌صورت کیفی و تا حدودی کمی به خصوص در مورد نمونه های معدنی، باستانی، زمین‌شناسی، کانی‌ها، سنگ‌ها، شیشه، سیمان، سرامیک‌ها و آلیاژهای فلزی انجام داد که رد یابی عناصر از سدیم تا اورانیوم را ممکن می سازد که دقت آن برای عناصر سنگین بیشتر است.

همچنین مقداری از نمونه ابتدا وزن می شود و سپس وارد کوره می گردد و تا دمای ۱۱۰۰ درجه سانتیگراد حرارت می بیند سپس دوباره وزن می شود و درصد کاهش وزن آن در اثر حرارت به صورت پارامتر LOI گزارش می شود .