هیچ محصولی در سبدخرید نیست.
آنالیز ICP-OES
شناسایی و تعیین عناصر مختلف در نمونهها آنالیز ICP-OES (Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectroscopy) یکی از روشهای دقیق و حساس برای تعیین غلظت عناصر
آنالیز XRF
شناسایی و تعیین عناصر در مواد آنالیز X-ray Fluorescence (XRF) یکی از روشهای سریع و غیر مخرب برای شناسایی و تعیین غلظت عناصر موجود در
آنالیز VSM
اندازهگیری خواص مغناطیسی مواد آنالیز Vibrating Sample Magnetometry (VSM) یکی از روشهای دقیق و استاندارد برای اندازهگیری ویژگیهای مغناطیسی مواد است. این روش امکان بررسی
آنالیز DLS و Zeta Potential
اندازه ذرات، توزیع و بار سطحی آنالیز Dynamic Light Scattering (DLS) و Zeta Potential ابزارهای قدرتمندی برای شناسایی و آنالیز نانوذرات و سیستمهای کلوئیدی
آنالیز BET
اندازهگیری سطح ویژه و مشخصات تخلخل مواد آنالیز BET (Brunauer–Emmett–Teller) یکی از روشهای استاندارد و دقیق برای تعیین سطح ویژه، توزیع تخلخل و حجم منافذ
آنالیز NMR
شناسایی دقیق ساختار مولکولی و ترکیبات شیمیایی طیفسنجی رزونانس مغناطیسی هستهای (NMR) یکی از دقیقترین روشها برای تعیین ساختار مولکولی و بررسی محیط شیمیایی اتمها
آنالیز TEM
بررسی ریزساختار و آنالیز الکترونی مواد میکروسکوپ انتقالی الکترونی (TEM) ابزاری قدرتمند برای مطالعه ساختار داخلی مواد در مقیاس نانو است. این روش امکان بررسی
آنالیز FESEM
تصویربرداری فوقدقیق، آنالیز عنصری و نقشهبرداری پیشرفته سطح میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (FESEM) یکی از پیشرفتهترین روشهای بررسی ریزساختار مواد در مقیاس نانو است.
آنالیز XRD
شناسایی فاز، ساختار بلوری و ویژگیهای کریستالوگرافی مواد پراش پرتو ایکس (XRD) یکی از دقیقترین و استانداردترین روشهای تحلیل ساختار مواد است که با بررسی